IEC 60749-3 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
作者:标准资料网 时间:2024-05-08 02:37:51 浏览:8047
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part3:Externalvisualexamination
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
【标准号】:IEC60749-3Corrigendum1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐力;环境;试验;电子设备及元件;电气工程;尺寸;潮气;气候试验;温度变化;易燃性;环境试验;外观检查(试验);电学测量;集成电路;组件;热学;半导体;电子工程;大气压;机械试验;密封性;半导体器件;温度;气候
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
【标准号】:IEC60749-3Corrigendum1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:耐力;环境;试验;电子设备及元件;电气工程;尺寸;潮气;气候试验;温度变化;易燃性;环境试验;外观检查(试验);电学测量;集成电路;组件;热学;半导体;电子工程;大气压;机械试验;密封性;半导体器件;温度;气候
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
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